一、概念：
二極管是兩端口電子器件，支持電流沿著一個方向流動（正向壓），并阻礙電流從反方向流動（反向偏壓）。無論在研究實驗室還是生產線，都要對封裝器件或在晶圓上進行二極管I－V測試。
二、數(shù)字源表測量優(yōu)勢：
二極管I－V特性分析通常需要高靈敏電流表、電壓表、電壓源和電流源。對所有分離儀器進行編程、同步和連接，既麻煩又耗時，而且需要大量機架或測試臺空間。
S型數(shù)字源表簡化了測試，縮小機架空間，成為二極管特性分析的理想選擇，因為它能夠提供電流和電壓的源和測量。
三、二極管I－V測試
二極管參數(shù)測試要求能在較寬范圍提供電流和電壓的源和測量。
圖2給出典型二極管的I－V曲線，包括正向區(qū)、反向區(qū)和擊穿區(qū)，以及常見的測試點、正向電壓（VF）、漏電流（IR）和擊穿電壓（VR）。正向電壓（VF）測試涉及在二極管的正常工作范圍內提供指定的正向偏置電流，然后測量作為結果的電壓降。
漏電流（IR）測試確定二極管在反向電壓條件下泄漏的電流電平。其測試通過提供指定的反向電壓源，然后測量作為結果的漏電流。在反向擊穿電壓（VR）測試中，需要提供指定的反向電流偏置源，然后測量作為結果的二極管電壓降。
四、二極管與數(shù)字源表的連接
連接如圖所示
利用4線連接，可以消除引線電阻的影響。
當引線與二極管連接時，注意Force HI和Sense HI引線與二極管陽極端相連，F(xiàn)orce LO和Sense LO引線與二極管陰極端相連。盡可能使連接靠近二極管，以消除引線電阻對測量準確度的影響。
當測量低電平電流（＜1μA）時，建議使用后面板的三軸同軸連接器和三軸同軸電纜，不再使用前面板的香蕉插孔。
三軸同軸電纜具有屏蔽功能，將減少電磁干擾效應，電磁干擾效應可能會干擾讀數(shù)。圖下圖為二極管與數(shù)字源表后面板三軸同軸連接器連接示意圖。
除了使用三軸同軸電纜，還應當把二極管放置在避光的金屬屏蔽箱內。
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